Force Measurement System คือระบบวัดแรงกดและแรงดึงความแม่นยำสูง สำหรับงาน Tribology และ Mechanical Testing เหมาะสำหรับการทดสอบสมบัติเชิงกลของวัสดุ งานวิจัยไมโครนาโน และการทดสอบในภาคอุตสาหกรรม
ติดต่อเรา
รายการโปรด
CG-0-4 High & Low Temperature Vacuum Probe Station คือสถานีโพรบสุญญากาศสำหรับการทดสอบเวเฟอร์และอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ในช่วงอุณหภูมิสูงและต่ำ เหมาะสำหรับงานวิจัยไมโครนาโน การวัดคุณสมบัติทางไฟฟ้า และการทดสอบวัสดุขั้นสูงในสภาวะควบคุมสุญญากาศ
In Situ AFM In SEM คือระบบรวม Atomic Force Microscopy (AFM) เข้ากับ Scanning Electron Microscope (SEM) เพื่อวิเคราะห์โครงสร้างและสมบัติพื้นผิวระดับนาโนแบบเรียลไทม์ เหมาะสำหรับงานวิจัยวัสดุศาสตร์ เซมิคอนดักเตอร์ และไมโครอิเล็กทรอนิกส์
Hyperspectral Microscope System Type R รองรับการวิเคราะห์สเปกตรัมหลายช่วงคลื่นในระดับไมโคร เหมาะสำหรับงานชีวการแพทย์ วัสดุศาสตร์ ฟลูออเรสเซนซ์ และการวิจัยขั้นสูงในห้องปฏิบัติการ
Cathodoluminescence Imaging System (CL) สำหรับการวิเคราะห์คุณสมบัติการเรืองแสงและโครงสร้างวัสดุระดับนาโน เหมาะสำหรับ Semiconductor, LED, Photonics และงานวิจัยวัสดุขั้นสูง
ติดต่อเรา
รายการโปรด
Cathodoluminescence Imaging and Spectral Detection System สำหรับการถ่ายภาพและวิเคราะห์สเปกตรัมเชิงลึกในระดับนาโน เหมาะสำหรับ Semiconductor, LED, GaN, SiC และงานวิจัยวัสดุขั้นสูง
ติดต่อเรา
รายการโปรด
Electron Beam Exposure System Pharos310 (EBL) สำหรับการสร้างลวดลายระดับนาโนเมตรความละเอียดสูง เหมาะสำหรับงานวิจัย Semiconductor, Nanophotonics, MEMS และ Advanced Materials
ติดต่อเรา
รายการโปรด
This website uses cookies for best user experience, to find out more you can go to our
Privacy Policy และ Cookies Policy