Educational Scanning Microscope Probe เครื่องสแกนวิเคราะห์พื้นผิวระดับนาโนสำหรับการเรียนการสอน

ภาพรวมผลิตภัณฑ์

รายละเอียดสินค้า: กล้องจุลทรรศน์สำหรับการสอน การออกแบบขนาดเล็กและถอดออกได้ ง่ายต่อการพกพาและการสอน; หัวตรวจจับเลเซอร์และโต๊ะสแกนตัวอย่างรวมกัน ซึ่งมีเสถียรภาพและเชื่อถือได้ อุปกรณ์กำหนดตำแหน่งเลเซอร์และหัววัดที่มีความแม่นยำ ง่ายและสะดวก.

ข้อมูลพื้นฐาน

ลักษณะการทำงานของกล้องจุลทรรศน์สำหรับการสอน:

• การออกแบบขนาดเล็กและถอดออกได้ ง่ายต่อการพกพาและการสอน
• หัวตรวจจับเลเซอร์และโต๊ะสแกนตัวอย่างรวมกัน ซึ่งมีเสถียรภาพและเชื่อถือได้
• อุปกรณ์กำหนดตำแหน่งเลเซอร์และหัววัดที่มีความแม่นยำ ง่ายและสะดวกในการเปลี่ยนหัววัดและปรับจุดแสง
• ตัวอย่างการขับเคลื่อนแกนเดี่ยวเพื่อให้เข้าใกล้หัววัดในแนวตั้งโดยอัตโนมัติ ระบุตำแหน่งพื้นที่สแกนอย่างแม่นยำ และทำให้ปลายเข็มตั้งฉากกับการสแกนตัวอย่าง
• โหมดการป้อนเข็มอัจฉริยะของการตรวจจับอัตโนมัติของเซรามิกไฟฟ้าแรงดันที่ควบคุมโดยมอเตอร์ช่วยป้องกันหัววัดและตัวอย่าง
• การวางตำแหน่งออปติคอลเลนส์ใกล้วัตถุ 4X ไม่จำเป็นต้องโฟกัส สังเกตและวางตำแหน่งพื้นที่สแกนตัวอย่างหัววัดแบบเรียลไทม์
• โหมดกันกระแทกแบบสปริงแขวน
  

พารามิเตอร์ทางเทคนิค:

• โหมดการทำงานพื้นฐาน: โหมด tapping, การวัดเส้นโค้ง RMS-Z
  
• โหมดการทำงานเสริม: โหมดสัมผัส, การวัดเส้นโค้งแรง F-Z, แรงเสียดทาน/แรงด้านข้าง, แอมพลิจูด/เฟส, แรงแม่เหล็กและแรงไฟฟ้าสถิต
• ขนาดตัวอย่าง: Φ90mm, H20mm
• ช่วงการสแกน: 20um ในทิศทาง XY, 2um ในทิศทาง Z
• ความละเอียดในการสแกน: 0.2nm ในทิศทาง XY, 0.05nm ในทิศทาง Z
• ช่วงการเคลื่อนที่ของตัวอย่าง: 0~13mm
  กำลังขยายออปติคอล 4X, ความละเอียดออปติคอล 2.5um
  
• อัตราการสแกน 0.6Hz~4.34Hz และมุมการสแกน 0~360°
• การควบคุมการสแกน: XY ใช้ 18-bit D/A, Z ใช้ 16-bit D/A
• การสุ่มตัวอย่างข้อมูล: 14-bit A/D, dual 16-bit A/D การสุ่มตัวอย่างพร้อมกันหลายช่องสัญญาณ
• วิธีป้อนกลับ: DSP digital feedback
• อัตราการสุ่มตัวอย่างป้อนกลับ: 64.0KHz
• อินเทอร์เฟซการสื่อสาร: USB2.0/3.0
• สภาพแวดล้อมการทำงาน: ระบบปฏิบัติการ Windows XP/7/8/10