Ellipsometer | Hong Kong NTI

Tổng quan về sản phẩm

Dựa trên sự điều chế của bộ bù xoay kép, phép đo nhanh 16 phần tử của toàn bộ ma trận Muller được thực hiện Được sử dụng để mô tả độ dày màng mỏng đẳng hướng/dị hướng, hằng số quang học và cấu trúc nano

Công nghệ cốt lõi

Công nghệ điều khiển đồng bộ bộ bù xoay kép
Công nghệ bộ bù không sắc phổ rộng,
Công nghệ phát hiện ít đốm Thuật toán hiệu chuẩn độ chính xác của thiết bị
Công nghệ thay đổi góc và tiêu điểm hoàn toàn tự động, đo nhanh bằng một phím
Bề mặt quả tương tác giữa người và máy Wizard, trải nghiệm vận hành phần mềm thuận tiện
Cơ sở dữ liệu vật liệu phong phú và thư viện mô hình thuật toán, khả năng phân tích dữ liệu mạnh mẽ

Technical Characteristics

Mueller Matrix Ellipsomemeter

Based on the modulation of double rotation compensators,

the fast measurement of 16 elements of the whole Muller matrix is realized

It is used for the characterization of isotropic/anisotropic thin film film thickness, optical constants, and nanostructures.

High-Precision Spectroscopic Ellipsometer

It can realize scientific research/enterprise-level high-precision and rapid spectral ellipsometry measurement, support multi-angle, low-spot and other high-compatibility flexible configuration, multi-function module customized design, and is widely used in optical communication/OLED/TP/transparent conductive film and other applications involving transparent substrate coating measurement and characterization