Product A - Z Index

A

• ระบบแยกการสั่นสะเทือนแบบแอคทีฟสำหรับการวัดด้วยเลเซอร์-ออปติก

• ระบบแยกการสั่นสะเทือนแบบแอคทีฟพร้อมห้องลดเสียงรบกวน

• ระบบวัดทางไฟฟ้าของ AFM

• คอนโทรลเลอร์ AFM Galaxy Dua

• AFX-1000-3D (เครื่องไฮบริดนาโนโปรไฟเลอร์)

• AP 300 เครื่องขัดผิวเดี่ยว (CMP)

• ARISMD PRO Series (ระบบแยกการสั่นสะเทือนแบบแอคทีฟ)

• ARISTT Series (ระบบแยกการสั่นสะเทือนแบบแอคทีฟ)

• AT-1 (ระบบตรวจจับด้วยแสงออปติคอล)

• อุปกรณ์สะสมชั้นอะตอม (ALD)

B

• แพลตฟอร์มฐานแบบนิวแมติกแอคทีฟไอโซเลชั่น

C

• ระบบถ่ายภาพและตรวจวัดสเปกตรัมคาโทโดลูมิเนสเซนซ์

• ระบบถ่ายภาพคาโทโดลูมิเนสเซนซ์

• CIL Series เครื่องมือสร้างลวดลายระดับนาโนแบบอินเตอร์เฟอเรนซ์

• เครื่องทำความสะอาด (Norcada)

• ระบบแยกการสั่นสะเทือนแบบแอคทีฟขนาดกะทัดรัดสำหรับ SEM ทั่วไป

• โซลูชันปรับแต่งเฉพาะทาง

D

• กล้องจุลทรรศน์ดิจิทัลแบบสเตอริโอ

• กล้องจุลทรรศน์ดิจิทัลแบบตั้งตรง

E

• กล้องจุลทรรศน์สแกนนิงสำหรับการศึกษา

• กล้องจุลทรรศน์สแกนนิงแบบอุโมงค์สำหรับการศึกษา (FM-Nano View T-STM)

• ระบบฉายลำอิเล็กตรอน Pharos310

• ระบบให้ความร้อนในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

• อุปกรณ์วัดค่าการสะท้อนแสง (Ellipsometer)

• เครื่องกัด EtchLab-300 (RIE Etching)

• E Series สถานีโพรบแบบแมนนวลที่มีความคุ้มค่า

F

• Filmetrics® R50 Series

• Filmetrics® R54 Series

• อุปกรณ์วัดแรง (การทดสอบแรงเสียดทาน & กลศาสตร์)

H

• สถานีโพรบสุญญากาศอุณหภูมิสูงและต่ำ (CG-O-4)

• เครื่องทำลายโอโซนความเข้มข้นสูง

• เครื่องกำเนิดโอโซนเพลทไทป์ความบริสุทธิ์และความเข้มข้นสูง

• HIL Series ระบบสร้างลวดลายระดับนาโนแบบเวเฟอร์สเกล

• จอแสดงผลแบบ Head-Up Display (HUD)

• ระบบกล้องจุลทรรศน์ Hyperspectral

I

• ระบบกัดไอออน IBE

• ระบบกัดไอออนพลาสมา ICP Etching - 300

• AFM ใน SEM

• ระบบทำงานอัตโนมัติและปรับแต่งเฉพาะทาง

• ชิปและตัวยึดให้ความร้อนในระบบ In-Situ

• ระบบ In-Situ TEM แบบนาโนเมตริก 4 องศาอิสระ

• การทดสอบแรงดึง In-Situ

N

• แม่พิมพ์นาโนอิมพริ้นต์

• Nano-Observer AFM โซลูชันคุ้มค่าที่สุด

• Nano-Observer XL

• Nashengcn

• NTI-ArFIB 200 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนปล่อยไออออาร์กอน

• NTI-FE 1801 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนปล่อยสนาม

• NTI-FE 2800 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนปล่อยสนาม

P

• Park NX-10

• Park NX-20

• Park NX-7

• Park NX-Wafer

• PL-A แบบสุญญากาศ

• ระบบสะสมฟิล์มบาง PVD (SVAC-FilmLab-B)

• ระบบสะสมฟิล์มบาง PVD (SVAC-FilmLab-G)

• ระบบสะสมฟิล์มบาง PVD (SVAC-FilmLab-T)

S

• ระบบสแกนไมโครเวฟอิมพีแดนซ์ (sMIM)

• ระบบสแกนวัดอุณหภูมิ (SThM)

• เครื่องผลิตน้ำโอโซนเข้มข้นสูงสำหรับอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์

• SUME BW510 Series (ระบบบอนด์เวเฟอร์)

• SUME MA-L8 Series (เครื่องจัดตำแหน่งมาสก์กึ่งอัตโนมัติ)

T

• ระบบแยกการสั่นสะเทือนแบบตั้งโต๊ะ

• สถานีโพรบเลเซอร์สำหรับแผง TEG

• เครื่องจ่ายวัสดุสามแกนความแม่นยำสูง

• Tribometer (การทดสอบแรงเสียดทานและกลศาสตร์)

V

• VIL Series ระบบสร้างลวดลายระดับนาโนอัตโนมัติ

W

• เครื่องวัดแรงเครียดภายในเวเฟอร์ SV200
• เครื่องวัดการโก่งตัวของเวเฟอร์

X

• xCMP150 เครื่องขัดเชิงกลและเคมี

• X Series สถานีโพรบกึ่งอัตโนมัติ



บริการลูกค้า

ขอใบเสนอราคา

ติดต่อเรา

ส่งอีเมล

General Consumables (Accessories)

Application & Services