Atomic Force Microscope
พบสินค้า 8 ชิ้น
เรียงตาม
Scanning Thermal Microscopy (SThM) เป็นเทคนิค AFM สำหรับวัดการกระจายอุณหภูมิและค่าการนำความร้อนในระดับนาโน เหมาะสำหรับเซมิคอนดักเตอร์ อุปกรณ์นาโน วัสดุขั้นสูง และการวิเคราะห์ความร้อนเชิงลึก
Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM) เป็นเทคนิค AFM สำหรับวัดและทำแผนที่ค่าการนำไฟฟ้า อิมพีแดนซ์ และโดปปิ้งระดับนาโน เหมาะสำหรับเซมิคอนดักเตอร์ วัสดุขั้นสูง และงานวิเคราะห์อุปกรณ์ไมโคร-นาโน
AFM Electrical Measurements Systems รองรับการวัดกระแสไฟฟ้า I-V, ความต้านทาน, ความนำไฟฟ้า และคุณสมบัติทางไฟฟ้าระดับนาโน เหมาะสำหรับเซมิคอนดักเตอร์ อุปกรณ์นาโน และงานวิจัยวัสดุขั้นสูง
AFM Galaxy Dual Controller เป็นชุดควบคุมประสิทธิภาพสูงสำหรับระบบ AFM รองรับการสแกนความเร็วสูง ความแม่นยำระดับนาโน และการเชื่อมต่อโมดูลวัดขั้นสูง เหมาะสำหรับงานวิจัยและอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์
Nano-Observer AFM เป็นกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมที่ให้ประสิทธิภาพสูงในราคาคุ้มค่า เหมาะสำหรับมหาวิทยาลัย ห้องปฏิบัติการวิจัย และงานวิเคราะห์ไมโคร–นาโน รองรับโหมดการสแกนหลากหลายและอัปเกรดโมดูลได้ในอนาคต
Nano-Observer XL (AFM) รองรับการวิเคราะห์พื้นผิวและโครงสร้างระดับนาโนบนตัวอย่างขนาดใหญ่ เช่น wafer หรือชิ้นงานอุตสาหกรรม เหมาะสำหรับงานวิจัยเซมิคอนดักเตอร์ วัสดุขั้นสูง และห้องปฏิบัติการ R&D
Educational Scanning Microscope Probe ออกแบบสำหรับการเรียนการสอนด้านนาโนเทคโนโลยีและวัสดุศาสตร์ ใช้งานง่าย ปลอดภัย และเหมาะสำหรับห้องปฏิบัติการมหาวิทยาลัยและสถาบันการศึกษา
Educational Scanning Tunneling Microscope (FM-Nano View T-STM) ออกแบบเพื่อการเรียนการสอนด้านนาโนเทคโนโลยีและฟิสิกส์พื้นผิว สามารถศึกษาภาพระดับอะตอมของวัสดุนำไฟฟ้า เหมาะสำหรับมหาวิทยาลัยและห้องปฏิบัติการ STEM
MakeWebEasy