Atomic Force Microscope

Scanning Thermal Microscopy (SThM) membolehkan pemetaan suhu dan pengukuran kekonduksian terma pada skala nano menggunakan teknologi AFM. Sesuai untuk analisis hotspot semikonduktor, nanoelektronik dan bahan maju.

Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM) membolehkan pemetaan kekonduksian dan pengagihan dopan pada skala nano menggunakan teknologi AFM berasaskan gelombang mikro. Sesuai untuk analisis peranti semikonduktor dan nanoelektronik.

AFM Electrical Measurements Systems membolehkan pengukuran I-V, pemetaan kekonduksian dan analisis pengangkutan pembawa pada skala nano. Sesuai untuk peranti semikonduktor, nanoelektronik dan penyelidikan bahan maju.AFM Electrical Measurements

AFM Galaxy Dual Controller menyediakan kawalan berketepatan tinggi dan kestabilan unggul untuk sistem AFM. Sesuai untuk pencirian nano, penyelidikan semikonduktor dan integrasi pelbagai modul analisis lanjutan.

Nano-Observer AFM menawarkan pengimejan permukaan skala nano dengan prestasi tinggi pada kos yang berpatutan. Sesuai untuk universiti, makmal penyelidikan dan aplikasi sains bahan.

Nano-Observer XL AFM membolehkan analisis permukaan nano berketepatan tinggi pada wafer dan sampel berskala besar. Sesuai untuk industri semikonduktor, penyelidikan bahan maju dan aplikasi R&D.