Tổng quan về sản phẩm

Có chức năng phát hiện phân bố ứng suất và sàng lọc khuyết tật trong wafer hợp chất.

Hướng ứng dụng

Phù hợp để phát hiện ứng suất bên trong wafer hợp chất thế hệ thứ ba, wafer thủy tinh và các thành phần quang học chính xác (tinh thể phẳng, lăng kính, tấm sóng, thấu kính, v.v.).

Đặc điểm kỹ thuật

Ưu điểm

• Dựa trên mô hình đo ứng suất lưỡng chiết, phép đo ứng suất tức thời được thực hiện và bản đồ màu giả của phân bố ứng suất hai chiều được hiển thị.
• Áp dụng đường dẫn quang phát hiện telecentric kép và độ chính xác đo độ trễ pha cao.
• Theo các yêu cầu về lĩnh vực đo lường khác nhau, có nhiều loại thấu kính khác nhau.
• Khay mẫu tùy chỉnh để thích ứng với thử nghiệm hàng loạt wafer có thông số kỹ thuật khác nhau.

Lĩnh vực ứng dụng

• Phù hợp để sản xuất wafer hợp chất, xử lý quang học chính xác và các ngành công nghiệp khác.