In-situ
พบสินค้า 5 ชิ้น
เรียงตาม
In-Situ TEM Four-Degree-of-Freedom Nanomanipulator คืออุปกรณ์ควบคุมและจัดการชิ้นงานระดับนาโนภายในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน (TEM) รองรับการเคลื่อนที่ 4 แกน เพื่อการวิจัยด้านวัสดุศาสตร์ นาโนเทคโนโลยี และไมโครอิเล็กทรอนิกส์
In-Situ Tensile Testing System คือระบบทดสอบแรงดึงวัสดุภายในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM/TEM) เพื่อวิเคราะห์พฤติกรรมเชิงกลระดับไมโครและนาโน เหมาะสำหรับงานวิจัยวัสดุศาสตร์ เซมิคอนดักเตอร์ และไมโครอิเล็กทรอนิกส์
In Situ AFM In SEM คือระบบรวม Atomic Force Microscopy (AFM) เข้ากับ Scanning Electron Microscope (SEM) เพื่อวิเคราะห์โครงสร้างและสมบัติพื้นผิวระดับนาโนแบบเรียลไทม์ เหมาะสำหรับงานวิจัยวัสดุศาสตร์ เซมิคอนดักเตอร์ และไมโครอิเล็กทรอนิกส์
In-Situ Heating Chips & Holders คืออุปกรณ์ควบคุมอุณหภูมิภายในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM / TEM) สำหรับศึกษาการเปลี่ยนแปลงโครงสร้าง วัสดุ และปฏิกิริยาทางความร้อนแบบเรียลไทม์ เหมาะสำหรับงานวัสดุศาสตร์ เซมิคอนดักเตอร์ แบตเตอรี่ และนาโนเทคโนโลยี
Electron Microscope In-Situ Bias Heating System คือระบบทดสอบวัสดุภายใต้สภาวะความร้อนและแรงดันไฟฟ้าภายในกล้อง SEM/TEM แบบเรียลไทม์ เหมาะสำหรับงานวิจัยเซมิคอนดักเตอร์ แบตเตอรี่ อุปกรณ์ไมโคร-นาโน และการวิเคราะห์ความทนทานของวัสดุ
MakeWebEasy