In-situ
We have found 5 items
Sort by
In-Situ TEM Four-Degree-of-Freedom Nanomanipulator ialah sistem manipulasi dan posisi nano berketepatan tinggi untuk eksperimen dalam Transmission Electron Microscope (TEM). Sesuai untuk penyelidikan bahan, nanoteknologi dan analisis mikro-nano.
The In-Situ Tensile Testing System enables real-time mechanical characterization inside SEM or TEM. Designed for micro and nano-scale tensile experiments in advanced materials research, semiconductor development, and micro-device reliability analysis.
In Situ AFM In SEM ialah sistem yang menggabungkan Atomic Force Microscopy dalam ruang SEM untuk analisis topografi dan sifat permukaan pada skala nano secara serentak. Sesuai untuk penyelidikan bahan maju dan aplikasi semikonduktor.
In-Situ Heating Chips & Holders membolehkan eksperimen suhu terkawal dalam ruang SEM atau TEM untuk analisis perubahan struktur dan sifat bahan secara masa nyata. Sesuai untuk penyelidikan bahan maju, semikonduktor dan bateri.
Electron Microscope In-Situ Bias Heating System membolehkan eksperimen bias elektrik dan kawalan suhu dalam ruang SEM atau TEM secara serentak. Sesuai untuk penyelidikan semikonduktor, bateri, nanoelektronik dan analisis kebolehpercayaan peranti.
MakeWebEasy