Probe Station (M/E/CG series)

CG-0-4 High & Low Temperature Vacuum Probe Station คือสถานีโพรบสุญญากาศสำหรับการทดสอบเวเฟอร์และอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ในช่วงอุณหภูมิสูงและต่ำ เหมาะสำหรับงานวิจัยไมโครนาโน การวัดคุณสมบัติทางไฟฟ้า และการทดสอบวัสดุขั้นสูงในสภาวะควบคุมสุญญากาศ

E Series Economical Manual Probe Station สำหรับทดสอบเวเฟอร์และอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ เหมาะกับงาน R&D และห้องปฏิบัติการที่ต้องการระบบ probing ความแม่นยำสูงในงบประมาณคุ้มค่า รองรับงาน micro–nano characterization

M Series Basics Manual Probe Station สำหรับงานทดสอบเวเฟอร์และอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ เหมาะกับห้องปฏิบัติการ R&D และสถาบันการศึกษา ให้ความแม่นยำสูง รองรับงาน micro–nano characterization ในระดับพื้นฐาน