Probe Station (M/E/CG series)

CG-0-4 ialah stesen probe vakum untuk ujian wafer dan pencirian elektrik dalam julat suhu tinggi dan rendah. Direka untuk penyelidikan mikro-nano dan pembangunan peranti semikonduktor dalam persekitaran vakum terkawal.

Stesen probe manual ekonomi Siri E untuk ujian wafer dan pencirian elektrik semikonduktor. Sesuai untuk makmal R&D, universiti dan aplikasi mikro–nano dengan kos efektif serta kawalan manual berketepatan tinggi.

Stesen probe manual asas Siri M untuk ujian wafer dan pencirian elektrik semikonduktor. Sesuai untuk makmal R&D dan universiti dengan kawalan manual yang stabil dan ketepatan tinggi bagi aplikasi mikro–nano.