Kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường ion Argon NTI-ArFIB 200

Tổng quan về sản phẩm

Là một hệ thống chuẩn bị và phân tích mẫu đa chức năng sáng tạo, kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường chùm ion Argon NTI-ArFIB 200 đã tạo nên bước đột phá khi tích hợp súng ion Argon chùm rộng vào kính hiển vi điện tử quét. Kính hiển vi này đã thành công trong việc kết nối liền mạch giữa đánh bóng tại chỗ bằng chùm ion và hình ảnh quét điện tử có độ phân giải cao, loại bỏ việc truyền mẫu và tăng cường đáng kể hiệu quả phân tích. Công nghệ chùm ion rộng được trang bị trên NTI-ArFIB 200 có khả năng xử lý mạnh mẽ, cho phép dễ dàng xử lý các mẫu có kích thước lớn ở cấp độ milimét, giúp mở rộng đáng kể phạm vi ứng dụng của kính hiển vi. Thiết kế góc quét có thể giảm thiểu hiệu quả hư hỏng mẫu trong quá trình xử lý, đảm bảo tính toàn vẹn và trạng thái ban đầu của mẫu. Mô-đun cắt lớp ở cấp độ nanomet có thể kiểm soát chính xác độ dày loại bỏ lớp và thiết bị bẫy mảnh vụn độc đáo đảm bảo hệ thống hoạt động ổn định, tránh hiệu quả sự xen kẽ của mảnh vụn trong các thí nghiệm và các rủi ro tiềm ẩn. NTI-ArFIB 200 đặc biệt phù hợp với các mẫu nhạy cảm với môi trường hoặc có cấu trúc phức tạp, cung cấp cho người dùng giải pháp mô tả mẫu hiệu quả và chính xác. NTI-ArFIB 200 đã mở ra một chương mới trong việc khám phá thế giới vi mô!

Hướng ứng dụng