Kính hiển vi điện tử quét (SEM) NTI-FE 2800 có khả năng chụp ảnh điện áp thấp và độ phân giải cao tuyệt vời, được trang bị súng điện tử phát xạ trường nhiệt (Schottky FEG) để có được độ phân giải cao trong khi vẫn đảm bảo độ ổn định của dòng chùm tia. Công nghệ tăng tốc toàn cột tiên tiến tích hợp vào cột quang điện tử đảm bảo độ chính xác hình ảnh vượt trội ở điện áp tăng tốc thấp. Thiết kế thấu kính vật kính từ nhúng tiếp tục nâng cao khả năng chụp ảnh độ phân giải cao của hệ thống. Hệ thống phát hiện được tối ưu hóa có thể thu thập hiệu quả các tín hiệu electron thứ cấp và electron tán xạ ngược ở điện áp thấp, có thể quan sát trực tiếp các mẫu không dẫn điện ở điện áp thấp, giảm thiểu hư hỏng do chiếu xạ đối với mẫu và tiết lộ thông tin về cấu trúc và hình thái vi mô bề mặt
Thông tin cơ bản
Hướng ứng dụng
Ống nano cacbon, vật liệu anot silic-cacbon, mẫu khắc tiếp xúc chùm tia điện tử, tấm nano TiO2, màng căng ướt, tấm điện cực dương photphat sắt liti, gốm HfO2/SiC, mô lõi não chuột.