NTI-FE 2800 - Field Emission Scanning Electron Microscope

ภาพรวมผลิตภัณฑ์

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน NTI-FE 2800 มีความสามารถในการถ่ายภาพที่แรงดันไฟฟ้าต่ำและความละเอียดสูงที่ยอดเยี่ยม และติดตั้งปืนอิเล็กตรอนแบบปล่อยสนามความร้อน (Schottky FEG) เพื่อให้ได้ความละเอียดสูงพร้อมทั้งรับประกันเสถียรภาพของกระแสลำแสง เทคโนโลยีเร่งความเร็วแบบเต็มคอลัมน์ขั้นสูงที่รวมอยู่ในคอลัมน์แสงอิเล็กตรอนช่วยให้มั่นใจถึงประสิทธิภาพการถ่ายภาพที่โดดเด่นที่แรงดันเร่งต่ำ การออกแบบเลนส์ใกล้วัตถุแม่เหล็กแบบ Immersion ช่วยเพิ่มขีดความสามารถในการถ่ายภาพที่มีความละเอียดสูงของระบบเพิ่มเติม ระบบตรวจจับที่ได้รับการปรับปรุงให้เหมาะสมสามารถรวบรวมสัญญาณอิเล็กตรอนทุติยภูมิและอิเล็กตรอนกระเจิงกลับได้อย่างมีประสิทธิภาพที่แรงดันไฟฟ้าต่ำ ซึ่งสามารถสังเกตตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้าได้โดยตรงที่แรงดันไฟฟ้าต่ำ ลดความเสียหายจากการฉายรังสีให้กับตัวอย่าง และเผยให้เห็นข้อมูลจุลสัณฐานวิทยาและโครงสร้างของพื้นผิว

ข้อมูลพื้นฐาน

ทิศทางการใช้งาน

ท่อนาโนคาร์บอน, วัสดุขั้วบวกซิลิคอน-คาร์บอน, รูปแบบการแกะสลักด้วยการฉายรังสีอิเล็กตรอน, แผ่นนาโน TiO2, ฟิล์มยืดเปียก, แผ่นอิเล็กโทรดบวกลิเธียมเหล็กฟอสเฟต, เซรามิก HfO2/SiC, เนื้อเยื่อสมองส่วนนอกของหนู