Scanning electron microscope and related equipment

ระบบลำแสงคู่ (Dual Beam - DB) โดยทั่วไปหมายถึงการผสมผสานระหว่างกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (Scanning Electron Microscope - SEM) และลำไอออนจดจ่อ (Focused Ion Beam - FIB)

NTI-FE 2800 Field Emission Scanning Electron Microscope เป็นระบบ FE-SEM สำหรับการสร้างภาพพื้นผิวและการวิเคราะห์โครงสร้างวัสดุด้วยความละเอียดสูงระดับนาโน เหมาะสำหรับงานวิจัยด้านวัสดุศาสตร์ เซมิคอนดักเตอร์ นาโนเทคโนโลยี และการวิเคราะห์โครงสร้างระดับไมโคร

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) สำหรับการวิเคราะห์โครงสร้างพื้นผิวระดับไมโครและนาโน ให้ภาพความละเอียดสูง เหมาะสำหรับงานวิจัยด้านวัสดุศาสตร์ เซมิคอนดักเตอร์ นาโนเทคโนโลยี และการวิเคราะห์พื้นผิวในงานอุตสาหกรรมและห้องปฏิบัติการขั้นสูง