Gambaran Keseluruhan Produk
Dari pengukuran elektrik hingga mekanikal dan melalui persekitaran berbeza, Nano-Observer XL adalah AFM yang anda perlukan!
Maklumat Asas
- HD-KFMTM
- RESISCOPETM
- Soft ResiScope
- Soft IC (mekanikal, elektrikal, SThM...)
- Kawalan persekitaran
- EZ TEMPerature dari -40° hingga 300°C
- EZ Liquids (cecair, EC...)
- Mudah digunakan
Mod Termaju
- Baru: Soft IC, mod AFM ke-3
- Kelebihan mod sentuhan dan resonan
- Mod AFM tanpa kelemahan
- Pakej mod elektrik berkuasa:
- sMIM
- HD-KFM
- ResiScope
- Persekitaran berbeza:
- Suhu (-40°C hingga 300°C)
- Pengukuran cecair
Kualiti Pengukuran
3 langkah untuk pengukuran AFM berkualiti dan resolusi tinggi!
Pengesanan optik : Laser hingar rendah (kualiti pengesanan) dan koherensi rendah (untuk mengelakkan gangguan laser/sampel).
Elektronik : Elektronik hingar rendah (pengawal, kualiti bekalan kuasa) dan resolusi kawalan imbasan (24 bit) untuk ketepatan pada sebarang saiz imbasan.
Peringkat lenturan dipatenkan : Peringkat kami membolehkan imbasan 100µm XY (dan 15µm Z) dari tahap atom atau resolusi molekul MOD RESONAN 250NM SCAN.
Kawalan Cepat Dan Mudah
Perisian intuitif : Mod yang telah dikonfigurasi membolehkan pemilihan mod AFM dengan mudah. Dengan satu klik, anda boleh beralih antara semua mod AFM. Tiada lagi keperluan tambahan, tiada lagi kesilapan atau kerosakan.
Pandangan atas/sisi : Kamera warna video menawarkan pandangan yang berguna dari atas untuk penempatan tip/sampel atau pandangan sisi untuk memudahkan pendekatan tip/sampel.
Optik prestasi tinggi : Optik prestasi tinggi (pilihan) juga tersedia untuk mengesan ciri-ciri kecil tanpa menggantikan pengimbas!
Mod Elektrik Termaju
ResiScope digabungkan dengan HD-KFM & sMIM = pakej pengukuran elektrik AFM terbaik!
ResiScope : Alat terbaik untuk pencirian elektrik AFM
- Arus/Rintangan dari 10² hingga 10¹² ohm
- Kawalan arus
- Kepekaan tinggi pada keseluruhan julat
- Mod ResiScope, isyarat rintangan, vanadium dioksida (VO2), 15µm
**HD-KFM:** KFM satu-lalu yang dioptimumkan
- Satu lalu - TIADA ANGKAT
- Kepekaan sangat tinggi
- Resolusi spatial lebih tinggi
sMIM: Mikroskopi impedans gelombang mikro pengimbasan
- Pemetaan kebolehtelapan & kekonduksian berskala nano
- Kapasitan/kebolehtelapan
- Variasi kerintangan/kekonduksian