AFM-in-SEM
for In-Situ Correlative Microscopy
LiteScope
Kami memperkenalkan Mikroskop Daya Atom (AFM) yang revolusioner,
yang direka untuk penyepaduan lancar dengan Mikroskop Elektron Imbasan (SEM),
membuka peluang baharu dalam bidang mikroskopi korelatif in-situ.
Mengapa gabungkan AFM dengan SEM?
Mikroskop Elektron Imbasan (SEM) dan Mikroskop Daya Atom (AFM)
merupakan dua teknik analisis sampel yang paling banyak digunakan dan saling melengkapi
dalam julat sub-nanometer.
Penyepaduan AFM ke dalam SEM menggabungkan kekuatan kedua-dua teknologi ini,
menghasilkan aliran kerja yang sangat efisien dari segi masa
serta membolehkan analisis sampel yang kompleks
yang sebelum ini sukar atau hampir mustahil dilakukan
menggunakan peralatan AFM dan SEM yang berasingan secara konvensional.
Faedah Utama Teknologi
Analisis Sampel Multimodal Korelatif
Teknologi CPEM termaju
membolehkan pemerolehan data AFM dan SEM secara serentak
serta korelasi yang lancar antara kedua-duanya.
Pencirian Sampel Secara In-situ
Keadaan in-situ di dalam SEM
memastikan analisis sampel dilakukan pada masa yang sama, di tempat yang sama, dan di bawah keadaan yang sama.
Penyetempatan Tepat bagi Kawasan yang Diminati (Region of Interest)
Pendekatan yang sangat tepat dan menjimatkan masa
menggunakan SEM untuk menavigasi hujung AFM ke kawasan sasaran,
membolehkan penyetempatan dilakukan dengan cepat dan mudah.
Kami menggabungkan kekuatan AFM dan SEM.
AFM
- Topografi 3D yang tepat
- Resolusi tinggi (hingga sub-nanometer)
- Sifat mekanikal
- Sifat elektrik
- Sifat magnetik
SEM
- Pengimejan 2D yang pantas
- Julat medan pandang (daripada milimeter hingga nanometer)
- Pengubahsuaian permukaan
- Komposisi unsur
- Struktur hablur (Crystal Structures)
Bagaimanakah ia berfungsi?
Pada sampel, sinar elektron diarahkan berhampiran hujung AFM dengan jarak offset yang tetap.
Kedua-duanya kekal statik, sementara sampel diimbas menggunakan pengimbas piezo LiteScope.
Dengan cara ini, data daripada kedua-dua mikroskop dapat diperoleh pada masa yang sama, di tempat yang sama, dan di bawah keadaan yang sama.
Bidang Aplikasi
LiteScope menawarkan pengguna kemungkinan yang luar biasa
dalam analisis sampel dan pengimejan korelatif 3D termaju
dengan ketepatan penjajaran imej yang tiada tandingan.
Kepelbagaian LiteScope membuktikan kebolehgunaannya dalam pelbagai bidang aplikasi.
dalam bidang seperti Sains Bahan (Material Science), Nanoteknologi (Nanotechnology),
Semikonduktor (Semiconductors), Pembangunan Sel Suria (Solar Cell Development),
Sains Hayat (Life Science) serta bidang penyelidikan lain dan aplikasi industri.
Sains Bahan
- Bahan 1D / 2D
- Keluli dan aloi logam
- Bateri
- Seramik
- Polimer dan Komposit
Semikonduktor
- Litar bersepadu
- Sel suria
- Analisis kegagalan
- Visualisasi dopan
- Penyetempatan kebocoran arus
Struktur Nano
- Permukaan yang diubah suai menggunakan FIB/GIS
- Titik kuantum
- Filem berstruktur nano
- Corak nano
- Wayar nano
Sains Hayat
- Biologi sel
- Biologi marin
- Teknologi protein
MakeWebEasy