Penebat Getaran ialah sistem yang direka untuk mengurangkan dan mengawal getaran yang memberi kesan kepada peralatan berketepatan tinggi seperti mikroskop, instrumen metrologi, dan peralatan semikonduktor. Walaupun getaran kecil boleh menyebabkan imej kabur, data tidak tepat, dan prestasi berkurangan. Dengan menggunakan kedua-dua teknologi Pasif dan Aktif daripada redaman mekanikal hingga pampasan aktif masa nyata Penebat Getaran memberikan kestabilan, ketepatan, dan kebolehpercayaan tanpa memerlukan kerja asas yang mahal. Ia sesuai untuk makmal, kilang pembuatan, aplikasi perubatan, dan industri lain di mana ketepatan adalah kritikal.
Di makmal dan industri berteknologi tinggi, instrumen seperti AFM, SEM, TEM, atau mikroskop optik memerlukan kestabilan yang sangat tinggi. Walau bagaimanapun, sumber getaran harian seperti getaran bangunan, penghawa dingin, atau malah bunyi langkah kaki boleh menyebabkan imej menjadi kabur dan menjejaskan ketepatan pengukuran.
ARISTT ialah sistem Penebat Getaran Aktif (Active Vibration Isolation) yang direka untuk instrumen atas meja.
Tidak seperti sistem pasif konvensional yang hanya menyerap getaran, ARISTT boleh mengesan, menganalisis, dan menentang getaran secara masa nyata dengan kawalan berkuasa AI.
Penebat Getaran Resonans Aktif untuk Instrumen Atas Meja yang Sensitif
ARISTT ialah sistem atas meja yang padat, direka khas untuk mengasingkan instrumen saintifik sensitif daripada getaran persekitaran. Dibangunkan untuk makmal canggih dan persekitaran penyelidikan, ARISTT memastikan prestasi yang stabil walaupun di bawah gangguan harian.
Reka Bentuk & Ciri
Reka bentuk segi empat padat sesuai dengan mana-mana meja makmal standard
Plat atas yang kukuh untuk sokongan selamat instrumen berketepatan tinggi
Panel hadapan bergaya profesional memberikan penampilan moden dan kemas
Tidak seperti sistem pasif yang hanya menyerap getaran, ARISTT secara aktif mengesan, menganalisis, dan menentang gangguan secara masa nyata dengan kawalan berkuasa AI.
Proses
Sense Sensor mengukur getaran merentasi 6 Darjah Kebebasan (6 Degrees of Freedom)
Analyze Pengawal AI/ML memproses data getaran serta-merta
Counteract Aktuator menggunakan daya balas yang tepat untuk membatalkan getaran
Sorotan Prestasi (Performance Highlights)
Pengurangan getaran: kira-kira 8 dB pada 1 Hz dan 20 dB pada 3 Hz
Tindak balas ultra pantas: masa penstabilan <0.1 saat
Menjamin imej yang lebih tajam dan data pengukuran yang boleh dipercayai

Dibangunkan pada tahun 2007, siri VAIS-AMT ialah sistem anti-getaran aktif atas meja pertama di Korea yang dikomersialkan.
Ia memenuhi piawaian persekitaran kelas VC-G IEST untuk sistem anti-getaran bagi menyokong Atomic Force Microscope (AFM), iaitu peranti yang sangat terdedah kepada gangguan getaran frekuensi rendah.
VAIS-AMT juga menghapuskan fenomena resonans yang terdapat pada sistem penebat pasif, dengan prosedur pemasangan dan operasi yang lebih mudah. Sejak dikomersialkan, keupayaan cemerlang dan harga kompetitif VAIS-AMT telah diiktiraf oleh pengeluar AFM di seluruh dunia dan digunakan dalam pelbagai instrumen nano-pengukuran.

Sistem penebat getaran pasif pneumatik, yang banyak digunakan untuk menyekat getaran di sekitar tapak pemasangan mikroskop elektron, sebenarnya boleh menguatkan getaran disebabkan fenomena resonans pada kawasan frekuensi rendah. Malah untuk SEM biasa, yang agak tahan terhadap gangguan getaran, fenomena resonans dalam kawasan frekuensi rendah boleh menjejaskan persekitaran getaran kelas IEST VC-E, iaitu keadaan getaran minimum yang diperlukan untuk operasi optimum mikroskop elektron.
VAIS-CMT ialah sistem penebat getaran aktif sepenuhnya yang menggabungkan teknologi kawalan 3 paksi 6 darjah kebebasan bagi menghapuskan masalah resonans daripada sistem penebat pasif pneumatik.
Dengan rangka spring gegelung logam (metal coil spring frame) sebagai sokongan, VAIS-CMT tidak memerlukan bekalan udara termampat. Ketinggian yang lebih rendah juga mengatasi ketidakselesaan yang biasanya disebabkan oleh sistem pasif pneumatik. Dengan harga yang kompetitif, ia merupakan penyelesaian penebat getaran terbaik untuk SEM biasa.

VAIS-SEi telah dibangunkan untuk instrumen pemeriksaan dan pengukuran dalam persekitaran bilik bersih (clean room). Mikroskop yang digunakan untuk pemeriksaan dan pengukuran dalam bilik bersih sering terdedah kepada persekitaran yang mencabar. Dalam bilik bersih biasa, tahap bunyi melebihi 70 dB(C) dan getaran kuat daripada lantai terapung disalurkan terus kepada instrumen sasaran.
VAIS-SEi direka dan dihasilkan menggunakan teknologi berpatent oleh AMTEK. Dengan melindungi mikroskop daripada bunyi akustik di bilik bersih, VAIS-SEi mampu menyediakan persekitaran bebas getaran melalui sistem anti-getaran aktif AMTEK (VAIS-PB).
Selain itu, persekitaran bebas partikel dapat dijamin oleh sistem Fan Filter Unit berpatent yang beroperasi tanpa bunyi, manakala pengawal suhu (thermal controller) memastikan suhu kekal stabil.
VAIS-SEi ialah produk teras yang menggabungkan semua teknologi utama termasuk sistem anti-getaran dan sistem penebat bunyi, menjadikannya penyelesaian lengkap untuk instrumen berketepatan tinggi dalam bilik bersih.






Dibangunkan pada tahun 2007, siri VAIS-AMT ialah sistem anti-getaran aktif atas meja pertama di Korea yang dikomersialkan.
Ia memenuhi piawaian persekitaran kelas VC-G IEST untuk sistem anti-getaran bagi menyokong Atomic Force Microscope (AFM), iaitu peranti yang sangat terdedah kepada gangguan getaran frekuensi rendah.
VAIS-AMT juga menghapuskan fenomena resonans yang terdapat pada sistem penebat pasif, dengan prosedur pemasangan dan operasi yang lebih mudah. Sejak dikomersialkan, keupayaan cemerlang dan harga kompetitif VAIS-AMT telah diiktiraf oleh pengeluar AFM di seluruh dunia dan digunakan dalam pelbagai instrumen nano-pengukuran.

Sistem penebat getaran pasif pneumatik, yang banyak digunakan untuk menyekat getaran di sekitar tapak pemasangan mikroskop elektron, sebenarnya boleh menguatkan getaran disebabkan fenomena resonans pada kawasan frekuensi rendah. Malah untuk SEM biasa, yang agak tahan terhadap gangguan getaran, fenomena resonans dalam kawasan frekuensi rendah boleh menjejaskan persekitaran getaran kelas IEST VC-E, iaitu keadaan getaran minimum yang diperlukan untuk operasi optimum mikroskop elektron.
VAIS-CMT ialah sistem penebat getaran aktif sepenuhnya yang menggabungkan teknologi kawalan 3 paksi 6 darjah kebebasan bagi menghapuskan masalah resonans daripada sistem penebat pasif pneumatik.
Dengan rangka spring gegelung logam (metal coil spring frame) sebagai sokongan, VAIS-CMT tidak memerlukan bekalan udara termampat. Ketinggian yang lebih rendah juga mengatasi ketidakselesaan yang biasanya disebabkan oleh sistem pasif pneumatik. Dengan harga yang kompetitif, ia merupakan penyelesaian penebat getaran terbaik untuk SEM biasa.

VAIS-SEi telah dibangunkan untuk instrumen pemeriksaan dan pengukuran dalam persekitaran bilik bersih (clean room). Mikroskop yang digunakan untuk pemeriksaan dan pengukuran dalam bilik bersih sering terdedah kepada persekitaran yang mencabar. Dalam bilik bersih biasa, tahap bunyi melebihi 70 dB(C) dan getaran kuat daripada lantai terapung disalurkan terus kepada instrumen sasaran.
VAIS-SEi direka dan dihasilkan menggunakan teknologi berpatent oleh AMTEK. Dengan melindungi mikroskop daripada bunyi akustik di bilik bersih, VAIS-SEi mampu menyediakan persekitaran bebas getaran melalui sistem anti-getaran aktif AMTEK (VAIS-PB).
Selain itu, persekitaran bebas partikel dapat dijamin oleh sistem Fan Filter Unit berpatent yang beroperasi tanpa bunyi, manakala pengawal suhu (thermal controller) memastikan suhu kekal stabil.
VAIS-SEi ialah produk teras yang menggabungkan semua teknologi utama termasuk sistem anti-getaran dan sistem penebat bunyi, menjadikannya penyelesaian lengkap untuk instrumen berketepatan tinggi dalam bilik bersih.






Dibangunkan pada tahun 2007, siri VAIS-AMT ialah sistem anti-getaran aktif atas meja pertama di Korea yang dikomersialkan.
Ia memenuhi piawaian persekitaran kelas VC-G IEST untuk sistem anti-getaran bagi menyokong Atomic Force Microscope (AFM), iaitu peranti yang sangat terdedah kepada gangguan getaran frekuensi rendah.
VAIS-AMT juga menghapuskan fenomena resonans yang terdapat pada sistem penebat pasif, dengan prosedur pemasangan dan operasi yang lebih mudah. Sejak dikomersialkan, keupayaan cemerlang dan harga kompetitif VAIS-AMT telah diiktiraf oleh pengeluar AFM di seluruh dunia dan digunakan dalam pelbagai instrumen nano-pengukuran.