Nano-Observer XL กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) สำหรับตัวอย่างขนาดใหญ่และงานวิจัยขั้นสูง

Nano-Observer XL กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) สำหรับตัวอย่างขนาดใหญ่และงานวิจัยขั้นสูง

คำอธิบายสินค้าแบบย่อ

Nano-Observer XL (AFM) รองรับการวิเคราะห์พื้นผิวและโครงสร้างระดับนาโนบนตัวอย่างขนาดใหญ่ เช่น wafer หรือชิ้นงานอุตสาหกรรม เหมาะสำหรับงานวิจัยเซมิคอนดักเตอร์ วัสดุขั้นสูง และห้องปฏิบัติการ R&D

หมวดหมู่: Product, Products Labs, Micro-nano Characterization, Atomic Force Microscope

รายละเอียดสินค้า

ภาพรวมผลิตภัณฑ์

Nano-Observer XL คือเครื่อง AFM (Atomic Force Microscope) ที่ตอบโจทย์ทุกการใช้งานของคุณ ตั้งแต่การวัดค่าทางไฟฟ้าไปจนถึงทางกลศาสตร์ และสามารถทำงานในสภาพแวดล้อมที่หลากหลาย

ข้อมูลพื้นฐาน

HD-KFM
RESISCOPE
Soft ResiScope
- Soft IC (การวัดค่าทางกลศาสตร์, ไฟฟ้า, SThM...)
- การควบคุมสภาพแวดล้อม**:
- EZ TEMPerature: จาก -40°C ถึง 300°C
- EZ Liquids: ของเหลว, ไฟฟ้าเคมี (EC)...
ใช้งานง่าย
โหมดขั้นสูง

ใหม่ล่าสุด: Soft IC, โหมด AFM ที่ 3

ผสานข้อดีของโหมด Contact และ Resonant AFM โดยไม่มีข้อเสีย
ชุดโหมดไฟฟ้าที่ทรงพลัง:
- sMIM
- HD-KFM
- ResiScope
สภาพแวดล้อมที่หลากหลาย:
- อุณหภูมิ: -40°C ถึง 300°C
- การวัดค่าในของเหลว

คุณภาพการวัด
3 ขั้นตอนเพื่อการวัดค่า AFM ที่มีคุณภาพและความละเอียดสูง:

1. การตรวจจับด้วยแสง : เลเซอร์ที่มีสัญญาณรบกวนต่ำ (คุณภาพการตรวจจับสูง) และ coherence ต่ำ (เพื่อป้องกันการรบกวนระหว่างเลเซอร์และตัวอย่าง)

2. อิเล็กทรอนิกส์ : อิเล็กทรอนิกส์ที่มีสัญญาณรบกวนต่ำ (คอนโทรลเลอร์, คุณภาพของแหล่งจ่ายไฟ) และความละเอียดของการควบคุมสแกน (24 บิต) เพื่อความแม่นยำในทุกขนาดการสแกน

3. ฐานสแกนแบบ Flexure ที่ได้รับสิทธิบัตร: ฐานสแกนของเราสามารถสแกนได้ตั้งแต่ 100µm ในแนว XY (และ 15µm ในแนว Z) จากระดับอะตอมหรือความละเอียดระดับโมเลกุล

การควบคุมที่รวดเร็วและง่ายดาย

ซอฟต์แวร์ที่ใช้งานง่าย: โหมดที่กำหนดไว้ล่วงหน้าทำให้การเลือกโหมด AFM เป็นเรื่องง่าย ด้วยการคลิกเพียงครั้งเดียว คุณสามารถสลับระหว่างโหมด AFM ทั้งหมดได้ โดยไม่ต้องมีการตั้งค่าเพิ่มเติม ไม่มีข้อผิดพลาดหรือความเสียหาย
มุมมองด้านบน/ด้านข้าง: กล้องวิดีโอสีช่วยให้มองเห็นจากด้านบนสำหรับการจัดตำแหน่งปลายหัววัดและตัวอย่าง หรือมุมมองด้านข้างเพื่อให้การเข้าใกล้ปลายหัววัดและตัวอย่างทำได้ง่ายขึ้น
เลนส์ประสิทธิภาพสูง: เลนส์ประสิทธิภาพสูง (ตัวเลือก) ช่วยในการระบุลักษณะเล็กๆ บนตัวอย่างได้โดยไม่ต้องเปลี่ยนสแกนเนอร์

โหมดไฟฟ้าขั้นสูง
ResiScope ร่วมกับ HD-KFM และ sMIM = ชุดโหมดการวัดค่าไฟฟ้าที่ดีที่สุดสำหรับ AFM!

ResiScope: เครื่องมือที่ดีที่สุดสำหรับการวัดค่าทางไฟฟ้าในระดับ AFM
- กระแส/ความต้านทานตั้งแต่ 10² ถึง 10¹² โอห์ม
- การควบคุมกระแส
- ความไวสูงตลอดช่วงการวัด
HD-KFM: KFM แบบ single-pass ที่ได้รับการปรับปรุง
- หนึ่งรอบสแกน - ไม่ต้องใช้ LIFT
- ความไวสูงมาก
- ความละเอียดเชิงพื้นที่สูงขึ้น
sMIM: การสแกนด้วยกล้องจุลทรรศน์วัดค่าอิมพีแดนซ์ไมโครเวฟ
- การทำแผนที่ความสามารถในการเก็บประจุและค่าการนำไฟฟ้าในระดับนาโน
- ความจุไฟฟ้า/ค่าคงที่ไดอิเล็กทริก
- การเปลี่ยนแปลงความต้านทาน/ค่าการนำไฟฟ้า