คำอธิบายสินค้าแบบย่อ
Profilm3D® Optical Profilometer เป็นระบบวัดโปรไฟล์พื้นผิวแบบ 3 มิติด้วยเทคโนโลยีออปติคัลสำหรับการวิเคราะห์ความขรุขระ ความสูง และลักษณะพื้นผิวระดับไมโครและนาโน เหมาะสำหรับอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ ไมโครอิเล็กทรอนิกส์ และงานวิจัยด้านวัสดุศาสตร์
ภาพรวมผลิตภัณฑ์
Profilm3D® Optical Profilometer
Profilm3D® และ Profilm3D-200 เป็นระบบวัดพื้นผิว 3 มิติแบบไม่สัมผัสที่ใช้เทคโนโลยี White Light Interferometry (WLI) ซึ่งมีราคาที่เหมาะสมและให้ประสิทธิภาพสูง รุ่นล่าสุดของเครื่องวัดนี้รวมถึงโหมดการถ่ายภาพใหม่ที่ขยายขีดความสามารถและคุณค่า Profilm3D series สามารถวัดพื้นผิวตั้งแต่ระดับนาโนเมตรถึงมิลลิเมตรด้วยการตั้งค่าสูตรที่ง่ายและยืดหยุ่น รองรับการสแกนเดี่ยวหรือการวัดอัตโนมัติบนหลายจุด เพื่อสนับสนุนทั้งสภาพแวดล้อมการวิจัยและพัฒนาและการผลิต
ข้อมูลพื้นฐาน
เครื่องวัด Profilm3D และ Profilm3D-200 สร้างการวัดพื้นผิว 3 มิติที่มีความละเอียดสูงในระดับนาโนเมตร โดยใช้เทคโนโลยี TotalFocus® ที่ให้ภาพ 3 มิติสีธรรมชาติที่มีทุกพิกเซลในโฟกัส รุ่นล่าสุดของ Profilm3D ยังมีโหมด Enhanced Roughness สำหรับวัดพื้นผิวที่ขรุขระมากขึ้นและมีความลาดชันสูง
คุณสมบัติ
การใช้งาน
ตัวเลือก
อุตสาหกรรม
ตัวอย่างการใช้งาน