NTI-ArFIB 200 Argon Ion Medan Pengimbasan Mikroskop Elektron

Penerangan Produk
Spesifikasi
Struktur Fungsian
Gambaran Keseluruhan Produk

Sebagai sistem penyediaan dan analisis sampel pelbagai fungsi yang inovatif, mikroskop elektron pengimbasan medan pancaran ion argon NTI-ArFIB 200 telah membuat satu kejayaan dengan menyepadukan senapang ion argon rasuk lebar ke dalam mikroskop elektron pengimbasan. Ia telah berjaya mencapai sambungan yang lancar antara penggilap in-situ pancaran ion dan pengimejan pengimbasan elektron resolusi tinggi, menghapuskan pemindahan sampel dan meningkatkan kecekapan analisis. Teknologi pancaran ion luas yang dilengkapi pada NTI-ArFIB 200 mempunyai keupayaan pemprosesan powerrul, membolehkannya mengendalikan sampel bersaiz besar dengan mudah pada tahap milimeter, yang meluaskan julat aplikasinya dengan ketara. Reka bentuk sudut ragut boleh mengurangkan kerosakan pada sampel dengan berkesan semasa pemprosesan, memastikan integriti dan keadaan asal sampel. Modul pemotongan lapisan peringkat nanometer boleh mengawal ketebalan penyingkiran lapisan dengan tepat, dan peranti pemerangkap serpihan yang unik memastikan operasi sistem yang stabil, dengan berkesan mengelakkan gangguan serpihan pada eksperimen dan potensi risiko. NTI-ArFIB 200 amat sesuai untuk sampel yang sensitif terhadap alam sekitar, menyediakan penyelesaian yang tepat kepada pengguna atau mempunyai struktur yang kompleks. NTI-ArFIB 200 telah berjaya membuka lembaran baharu dalam meneroka dunia mikroskopik!

Arahan permohonan