Scanning electron microscope and related equipment

The Dual Beam (DB) system typically refers to a combination of a Scanning Electron Microscope (SEM) + Focused Ion Beam (FIB).

NTI-FE 2800 ialah mikroskop elektron pengimbasan Field Emission (FE-SEM) berprestasi tinggi untuk pengimejan permukaan dan pencirian bahan pada skala nano. Sistem ini digunakan dalam penyelidikan bahan, industri semikonduktor, nanoteknologi, dan analisis mikrostruktur.

Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) digunakan untuk analisis struktur permukaan mikro dan nano dengan resolusi tinggi. Sesuai untuk penyelidikan sains bahan, teknologi nano, pemeriksaan semikonduktor dan analisis makmal lanjutan.