High & Low Temperature Vacuum Probe Station (CG-O-4)

หมวดหมู่ : Product , Products Labs , Micro-nano Characterization , Probe Station (M/E/CG series)

รายละเอียดสินค้า

ภาพรวมผลิตภัณฑ์
CG series high and low temperature vacuum probe station เป็นผลงานนวัตกรรมที่เกิดจากการสะสมเทคโนโลยีของมาหลายปี CG series สามารถทดสอบคุณสมบัติทางไฟฟ้า ความเข้มแสง ความยาวคลื่น สนามแม่เหล็ก และอื่นๆ ของตัวอย่างได้อย่างแม่นยำในสภาพแวดล้อมสุญญากาศและอุณหภูมิสูง-ต่ำ นอกจากนี้ยังมีจุดเด่นทางเทคโนโลยีในด้านอุณหภูมิต่ำมาก สุญญากาศสูงมาก การควบคุมอัตโนมัติ และการจำลองด้วยเลเซอร์

ทิศทางการใช้งาน
CG series high and low temperature vacuum probe station ถูกนำไปใช้ในหลายด้าน เช่น

การทดสอบชิปในสภาพแวดล้อมสุญญากาศและอุณหภูมิสูง-ต่ำ
การทดสอบ LD/LED/PD
การทดสอบคุณลักษณะสเปกตรัมของไฟเบอร์
การทดสอบคุณลักษณะ IV/CV ของวัสดุและอุปกรณ์
การทดสอบ Hall
การทดสอบคุณลักษณะการขนส่งทางแม่เหล็กไฟฟ้า
การทดสอบคุณลักษณะความถี่สูง

ข้อมูลพื้นฐาน

	รุ่นผลิตภัณฑ์	CG-O-2, CG-O-4, CG-C-4	สภาพแวดล้อมการทำงาน	สุญญากาศและอุณหภูมิสูง-ต่ำ
---	---	---	---		ความต้องการไฟฟ้า
AC220V/50-60HZ	การจัดการ	Manual probe station		ขนาดผลิตภัณฑ์	11001100530mm
น้ำหนักอุปกรณ์	ประมาณ 190KG