Electron Microscope In-Situ Bia

ภาพรวมผลิตภัณฑ์

เทคโนโลยี MEMS ที่เป็นเอกลักษณ์ของ Norcada ช่วยให้ชิป E-Biasing สำหรับการวิเคราะห์ In-Situ เชิงสัมพันธ์ในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนและรังสีเอกซ์ และเข้ากันได้กับตัวยึดให้ความร้อนและไบอัสของ Norcada, Hitachi และ Mel-Build

ยูนิตเหล่านี้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับไบอัส AC และ DC ในการกำหนดค่าแบบ 2-Probe และ 4-Probe