Cross-scale nanoprofiler-AFM3D

พบสินค้า 1 ชิ้น

เรียงตาม

ระบบวิเคราะห์พื้นผิวระดับนาโนแบบไฮบริด AFX-1000-3D (Hybrid Nanoprofiler System)

Hybrid Nanoprofiler AFX-1000-3D เป็นระบบวัดโปรไฟล์พื้นผิวแบบ 3 มิติสำหรับการวิเคราะห์พื้นผิวระดับไมโครและนาโน สามารถวัดความขรุขระ ความสูงของสเต็ป และลักษณะพื้นผิวได้อย่างแม่นยำ เหมาะสำหรับอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ MEMS นาโนเทคโนโลยี และงานวิจัยด้านวัสดุศาสตร์

ติดต่อเรา

รายการโปรด

เปรียบเทียบ