Cross-scale nanoprofiler-AFM3D

Filters(0)

Hybrid Nanoprofiler (AFX-1000-3D) ialah sistem pencirian permukaan nano yang menggabungkan teknologi AFM dan pemprofilan optik untuk analisis topografi permukaan 3D berketepatan tinggi. Sistem ini digunakan dalam penyelidikan bahan, industri semikonduktor, dan teknologi mikro-nano.

Contact us
Wishlist
This website uses cookies for best user experience, to find out more you can go to our Privacy Policy and Cookies Policy
Compare product
0/4
Remove all
Compare
Powered By MakeWebEasy Logo MakeWebEasy