Probe Mikroskop Pengimbasan Pendidikan

Gambaran Keseluruhan Produk

-Penerangan produk: Mikroskop pengajaran Reka bentuk kecil dan boleh tanggal, mudah dibawa dan diajar;
-Kepala pengesan laser dan jadual pengimbasan sampel disepadukan, yang stabil dan boleh dipercayai;
-Peranti penentu kedudukan laser dan probe ketepatan, ringkas dan mudah

Maklumat asas

Ciri-ciri prestasi mikroskop pengajaran
-Reka bentuk miniatur dan boleh tanggal, mudah dibawa dan diajar;
-Kepala pengesan laser dan jadual pengimbasan sampel disepadukan, yang stabil dan boleh dipercayai;
-Peranti penentu kedudukan laser dan probe ketepatan, mudah dan mudah untuk menggantikan probe dan melaraskan tempat cahaya;
-Sampel pemacu paksi tunggal untuk secara automatik menghampiri probe secara menegak, mengesan kawasan pengimbasan dengan tepat, dan menjadikan hujung jarum berserenjang dengan pengimbasan sampel;
-Mod suapan jarum pintar pengesanan automatik seramik elektrik bertekanan dikawal oleh motor melindungi probe dan sampel;
-4X kedudukan optik kanta objektif, tidak perlu fokus, pemerhatian masa nyata dan kedudukan kawasan pengimbasan sampel probe;
-Mod kalis kejutan digantung musim bunga

Parameter teknikal

-Mod kerja asas: mod mengetik, ukuran lengkung RMS-Z
-Mod kerja pilihan: mod sentuhan, pengukuran lengkung daya F-Z, daya geseran/sisi, amplitud/fasa, daya magnet dan daya elektrostatik
-Saiz sampel: Φ90mm, H20mm
-Julat pengimbasan: 20um ke arah XY, 2um
ke arah Z
-Resolusi pengimbasan: 0.2nm dalam arah XY, 0.05nm
ke arah Z
-Sampel julat pergerakan: 0~13mm
-Pembesaran optik 4X, resolusi optik 2.5um
-Kadar pengimbasan ialah 0.6Hz~4.34Hz, dan sudut pengimbasan ialah 0~360°
-Kawalan imbasan: XY menggunakan 18-bit D/A, Z menggunakan 16-bit D/A
-Pensampelan data: 14-bit A/D, dwi 16-bit A/D berbilang saluran pensampelan serentak
-Kaedah maklum balas: Maklum balas digital DSP
-Kadar pensampelan maklum balas: 64.0KHz
-Antara muka komunikasi: USB2.0/3.0
-Persekitaran operasi: Sistem pengendalian Windows XP/7/8/10