Stesen Probe Manual Jimat Siri E

Gambaran Keseluruhan Produk

Prober siri E mempunyai sistem mekanikal yang sangat baik, struktur dan prestasi yang stabil, reka bentuk ergonomik, operasi yang lebih mudah, menyokong peningkatan pelbagai fungsi, fungsi produk yang lebih banyak. Produk ini digunakan terutamanya dalam bidang pembuatan dan penyelidikan litar bersepadu, LED, LCD, sel solar dan industri lain.

Maklumat Asas

Arahan Permohonan

LD/LED/PD Keamatan cahaya/elektrod ujian panjang gelombang/ujian PAD PCB/ peranti pakej Bahan ujian/peranti IV/CV ujian ciri ciri frekuensi tinggi (sehingga frekuensi 300GHZ) ujian rf, dsb.

Ciri teknikal

POMater Adaptive shock absorbing base

Reka bentuk platform mudah alih tertutup, kalis habuk, operasi kalis ralat, struktur yang cantik. Platform bergerak menggunakan pemacu skru plumbum ketepatan THK + pergerakan linear + reka bentuk perbezaan perjalanan pergi balik tanpa pelepasan + fungsi mengunci chuck untuk meningkatkan ketepatan pergerakan chuck dalam banyak aspek.

Ciri teknikal

Tapak penyerap hentakan boleh suai sendiri direka dengan bahan penyerap hentakan yang diimport dari Jerman untuk meningkatkan sokongan keanjalan, untuk mencapai tahap ketegaran, kekerasan dan julat galas yang berbeza, dan menapis gangguan sumber getaran dalam persekitaran dengan berkesan untuk memastikan hubungan yang stabil antara hujung probe dan Pad sampel, meningkatkan kestabilan ujian.

Chuck boleh dilaraskan mengangkat

Chuck boleh dilaraskan mengangkat, lejang adalah 5mm, dan ketepatan ialah 10μm, yang memudahkan sampel untuk memisahkan probe dengan cepat.

POMater Adaptive shock absorbing base

Tapak penyerap hentakan boleh suai sendiri direka dengan bahan penyerap hentakan yang diimport dari Jerman untuk meningkatkan sokongan keanjalan, untuk mencapai tahap ketegaran, kekerasan dan julat galas yang berbeza, dan menapis gangguan sumber getaran dalam persekitaran dengan berkesan untuk memastikan hubungan yang stabil antara hujung probe dan Pad sampel, meningkatkan kestabilan ujian.

Chuck boleh dilaraskan mengangkat

Chuck boleh dilaraskan mengangkat, lejang adalah 5mm, dan ketepatan ialah 10μm, yang memudahkan sampel untuk memisahkan probe dengan cepat.

Pengangkatan mikroskop dengan pantas pneumatik

Mikroskop diangkat secara pneumatik dengan cepat, yang mudah untuk menggantikan mikroskop dan pemegang kad siasatan.

Reka bentuk platform bersaiz besar

Struktur badan bersaiz besar meningkatkan keselesaan operasi. Platform micropositioner dengan ruang yang lebih besar menyokong pemuatan kad probe dan meningkatkan kecekapan ujian probing.

Struktur berfungsi