Sistem Pengasingan Getaran Aktif Kompak untuk SEM

Sistem Pengasingan Getaran Aktif Kompak untuk SEM

Short Description

Sistem pengasingan getaran aktif kompak untuk SEM (Scanning Electron Microscope). Mengurangkan getaran frekuensi rendah secara masa nyata bagi meningkatkan kestabilan imej nano di makmal dan cleanroom industri.

Categories: Product, Products Fabs, Micro-nano Characterization, Peripheral: Vibration isolator, Products Labs, Micro-nano Characterization, Peripheral: Vibration isolator

Product Description

Specifications

Tinjauan Produk: Sistem Anti-Getaran Aktif VAIS-CMT

Masalah Sistem Pasif Pneumatik Konvensional:
Sistem anti-getaran pasif pneumatik yang biasa digunakan mempunyai kelemahan kritikal:

Penguatan getaran dalam julat frekuensi rendah (<10Hz) akibat fenomena resonans

Memerlukan bekalan udara termampat

Ketinggian sistem yang menyukarkan operasi

Sukar mencapai persekitaran getaran kelas IEST VC-E yang diperlukan untuk mikroskop elektron

Penyelesaian VAIS-CMT:
Sistem anti-getaran aktif penuh dengan ciri:
Kawalan 3 paksi-6 darjah kebebasan
Menyelesaikan masalah resonans sistem pasif
Reka bentuk spring gegelung logam - tiada keperluan udara termampat
Ketinggian lebih rendah untuk kemudahan operasi
Harga kompetitif

Kelebihan Utama:

Prestasi Penebatan Unggul:

Menghapuskan sepenuhnya gangguan getaran persekitaran

Sesuai untuk persekitaran getaran kritikal kelas IEST VC-E

Reka Bentuk Praktikal:

Tidak memerlukan bekalan udara termampat

Struktur padat dengan ketinggian berkurang

Pemeliharaan minima

Ekonomi:

Kos pemilikan lebih rendah berbanding sistem pasif

Penyelesaian optimum untuk SEM standard

Aplikasi Utama:

Mikroskop Elektron Pengimbasan (SEM) standard

Stesen Prob

Sistem Pengukuran Permukaan 3D

Mikroskop Optik Ketepatan Tinggi

Sistem Nano-indentasi

Instrumen Pengukuran/Analisis Nano

Perbandingan Prestasi: