Short Description
Park NX-10 Atomic Force Microscope (AFM) ialah sistem pencirian permukaan nano berketepatan tinggi yang digunakan untuk analisis topografi permukaan, pengukuran kekasaran, dan pencitraan nano 3D. Sistem ini sesuai untuk penyelidikan bahan, industri semikonduktor, nanoteknologi, dan mikroelektronik.