Atomic Force Microscope (Park systems)
We have found 4 items
Sort by
Park NX-20 Atomic Force Microscope (AFM) ialah sistem pencirian permukaan nano berketepatan tinggi yang digunakan untuk analisis topografi permukaan, pengukuran kekasaran, dan pencitraan nano 3D. Sistem ini digunakan secara meluas dalam penyelidikan bahan, industri semikonduktor, nanoteknologi, dan mikroelektronik.
Park NX-10 Atomic Force Microscope (AFM) ialah sistem pencirian permukaan nano berketepatan tinggi yang digunakan untuk analisis topografi permukaan, pengukuran kekasaran, dan pencitraan nano 3D. Sistem ini sesuai untuk penyelidikan bahan, industri semikonduktor, nanoteknologi, dan mikroelektronik.
Park NX-7 Atomic Force Microscope (AFM) ialah sistem pencirian permukaan nano berketepatan tinggi yang digunakan untuk analisis topografi permukaan, pengukuran kekasaran, dan pencitraan nano 3D. Sistem ini digunakan dalam penyelidikan bahan, industri semikonduktor, nanoteknologi, dan mikroelektronik.
Park NX-Wafer Atomic Force Microscope ialah sistem AFM berketepatan tinggi untuk pemeriksaan wafer semikonduktor dan analisis permukaan nano. Sistem ini menyokong pengukuran kekasaran permukaan dan analisis topografi 3D untuk industri semikonduktor, penyelidikan bahan, dan pembuatan mikroelektronik.
MakeWebEasy