Probe Station (M/E/X series and cut/welding)

พบสินค้า 4 ชิ้น

เรียงตาม

TEG Panel Laser Probe Station สำหรับทดสอบและวิเคราะห์แผง TEG ในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ รองรับงาน probing, laser cutting และ welding เพื่อการวิเคราะห์วงจรและ failure analysis ระดับไมโคร–นาโน

ติดต่อเรา

รายการโปรด

เปรียบเทียบ

X Series Semi-Automatic Probe Station สำหรับทดสอบเวเฟอร์และอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ รองรับงาน probing ความละเอียดสูง ระบบควบคุมกึ่งอัตโนมัติ เหมาะสำหรับ R&D, Failure Analysis และสายการผลิตระดับ Fab

ติดต่อเรา

รายการโปรด

เปรียบเทียบ

สถานีโพรบแบบแมนนวล รุ่น E Series (รุ่นประหยัด)

E Series Economical Manual Probe Station สำหรับทดสอบเวเฟอร์และอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ เหมาะกับงาน R&D และห้องปฏิบัติการที่ต้องการระบบ probing ความแม่นยำสูงในงบประมาณคุ้มค่า รองรับงาน micro–nano characterization

ติดต่อเรา

รายการโปรด

เปรียบเทียบ

สถานีโพรบแบบแมนนวล รุ่น M Series (รุ่นพื้นฐาน)

M Series Basics Manual Probe Station สำหรับงานทดสอบเวเฟอร์และอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ เหมาะกับห้องปฏิบัติการ R&D และสถาบันการศึกษา ให้ความแม่นยำสูง รองรับงาน micro–nano characterization ในระดับพื้นฐาน

ติดต่อเรา

รายการโปรด

เปรียบเทียบ

This website uses cookies for best user experience, to find out more you can go to our Privacy Policy และ Cookies Policy

MakeWebEasy