Probe Station (M/E/X series and cut/welding)
พบสินค้า 4 ชิ้น
เรียงตาม
TEG Panel Laser Probe Station สำหรับทดสอบและวิเคราะห์แผง TEG ในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ รองรับงาน probing, laser cutting และ welding เพื่อการวิเคราะห์วงจรและ failure analysis ระดับไมโคร–นาโน
X Series Semi-Automatic Probe Station สำหรับทดสอบเวเฟอร์และอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ รองรับงาน probing ความละเอียดสูง ระบบควบคุมกึ่งอัตโนมัติ เหมาะสำหรับ R&D, Failure Analysis และสายการผลิตระดับ Fab
E Series Economical Manual Probe Station สำหรับทดสอบเวเฟอร์และอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ เหมาะกับงาน R&D และห้องปฏิบัติการที่ต้องการระบบ probing ความแม่นยำสูงในงบประมาณคุ้มค่า รองรับงาน micro–nano characterization
M Series Basics Manual Probe Station สำหรับงานทดสอบเวเฟอร์และอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ เหมาะกับห้องปฏิบัติการ R&D และสถาบันการศึกษา ให้ความแม่นยำสูง รองรับงาน micro–nano characterization ในระดับพื้นฐาน
MakeWebEasy