Di Situ AFM Di SEM

Keseluruhan produk

Mikroskop Daya Atom Unik LiteScope direka untuk menggabungkan kekuatan teknik AFM dan SEM, menghasilkan aliran kerja yang berkesan dan memperluaskan kemungkinan mikroskopi korelatif dan analisis in-situ yang sukar atau hampir mustahil oleh instrumentasi konvensional.

Maklumat asas
-In-situ multimodal & analisis korelatif
-Aliran kerja yang dioptimumkan & cekap masa
-Prestasi muktamad dalam SEM
-Reka bentuk perkakasan terbuka untuk penyesuaian mudah
-Manfaat Penyelesaian AFM-In-SEM

Analisis sampel yang kompleks dan korelatif
Teknologi CPEM termaju membolehkan pemerolehan serentak data AFM dan SEM serta perkaitannya yang lancar.

Pencirian sampel in-situ
Keadaan in-situ di dalam SEM memastikan analisis sampel pada masa yang sama, di tempat yang sama dan di bawah keadaan yang sama.

Penyetempatan tepat bagi kawasan yang diminati
Pendekatan yang sangat tepat dan menjimatkan masa menggunakan SEM untuk menavigasi hujung AFM ke kawasan yang diminati, membolehkan penyetempatannya yang cepat & mudah.

Kaedah Novel Pengimejan Korelatif

Analisis yang kompleks tetapi cekap masa melalui Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM) membolehkan pengimejan korelatif 3D yang menghilangkan keperluan untuk tugasan berulang yang sebelum ini diperlukan untuk mencapai hasil yang serupa.

Penyelesaian semua-dalam-satu untuk analisis in-situ automatik bagi berbilang sifat bahan membolehkan gabungan unik data seperti topografi, kontras bahan, sifat mekanikal atau elektrik yang menghasilkan imej CPEM tiga dimensi.

Pencirian in-situ yang kompleks

AFM membawa kaedah pencirian dalaman-ke-SEM baharu, membolehkan analisis pelbagai sifat:

Sifat mekanikal bahan topografi
sifat anjal setempat (mod pengetuk & sentuhan)
kekerasan sampel tempatan (bukan topografi)
pencirian bahan yang bergantung kepada kedalaman
pelbagai operasi in-situ

Sifat magnet bahan
pengimejan domain magnetik

Sifat elektro-mekanikal bahan
pengimejan domain piezoelektrik

Sifat elektrik bahan
peta kekonduksian (termasuk kawasan bertebat)
potensi permukaan tempatan
sifat elektrik tempatan (bukan topografi)
topografi sub-nanometer

LiteScope - Kepala Imbasan

LiteScope ialah AFM yang direka untuk penyepaduan pantas dan mudah dalam SEM (beroperasi sebagai AFM kendiri juga).

Menyokong teknologi Correlative Probe dan Electron Microscopy (CPEM).

-Bahan pencirian permukaan yang komprehensif sifat mekanikal, magnetik, elektro-mekanikal dan elektrik
-Reka bentuk padat serasi dengan kebanyakan sistem SEM
-Pemasangan atau penyingkiran SEM mudah dalam masa kurang daripada lima minit
-Serasi dengan FIB, GIS, EDX dan aksesori lain
-Probe penderiaan kendiri tanpa pengesanan optik atau pelarasan laser
-Aksesori dan modul khas