Sistem Pengukuran Elektrik AFM

Gambaran Keseluruhan Produk
ResiScope II & Soft ResiScope
Prestasi Terhebat Dunia untuk Pencirian Elektrik AFM
ResiScope II ialah sistem unik yang mampu mengukur rintangan AFM selama 10 dekad dengan kepekaan dan resolusi yang tinggi.

Mod Soft ResiScope mampu mengembangkan bidang aplikasi « ResiScope II » kepada sampel lembut (sel suria organik, polimer konduktor atau sampel biologi lain).

Maklumat Asas

Pengukuran rintangan

-Pengukuran semasa (& spektroskopi IV)
-Rintangan 102 ohm hingga 1012 ohm (dinamik 10 dekad)
-Maklumat output : R, Log R, Spektroskopi Arus & I/V

Mod HD-KFM
Mod HD-KFM

Mod KFM laluan tunggal yang paling canggih
HD-KFM yang dibangunkan oleh CSI untuk Nano-Observer AFM mempunyai kelebihan untuk menguatkan isyarat maklum balas melalui mod eigen kedua cantilever. Ia juga membolehkan siasatan lebih dekat terhadap medan elektrik yang dicipta oleh potensi permukaan berbanding dengan pendekatan lain.

Pemetaan potensi permukaan
-Penguat kunci masuk ke-2
-TIADA LIFT : Kepekaan yang sangat tinggi & resolusi spatial yang lebih tinggi

Mengimbas Mikroskopi Impedans Gelombang Mikro
Kekonduksian, Permittiviti & Kepekatan N-Doping

Mod AFM baharu ini, dibangunkan oleh PrimeNano, mengukur sifat elektrik bahan pada skala panjang daripada 10s nanometer kepada mikron. Modul sMIM menghasilkan imej berkualiti tinggi bagi sifat elektrik tempatan dengan resolusi lebih baik daripada 50 nm.

-Sensitiviti yang tidak pernah berlaku sebelum ini
-Imbasan tunggal 6 saluran data
-Pengimejan bawah permukaan
-Masa Persediaan Contoh Minimum
-Tiada Laluan Konduktif Diperlukan
-Serentak