Sistem Anti-Getaran Aktif Pneumatik Jenis Platform Pangkalan

Gambaran Keseluruhan Produk

Mikroskop Elektron terdedah kepada gangguan getaran yang disebabkan oleh beberapa faktor termasuk resonans struktur akibat input getaran lantai.
Sistem pengasingan pasif pneumatik tidak akan mencipta persekitaran getaran yang mencukupi untuk mengeluarkan prestasi optimum mikroskop untuk memerhati imej pembesaran tinggi dan resolusi tinggi.

VAIS-PB ialah sistem anti-getaran aktif jenis platform asas yang dioptimumkan untuk mikroskop elektron (SEM, TEM dan FIB). Dengan rangka sokongan pneumatiknya, sistem ini mengatasi sistem berasaskan spring logam pesaing dan secara berkesan menghapuskan getaran impuls aperiodik.
Sejak pengkomersialan yang berjaya pada tahun 2015, keupayaan sistem berprestasi tinggi telah digunakan untuk beberapa pengeluar mikroskop elektron di seluruh dunia.

Maklumat Asas

Arahan Permohonan

1. Nota Permohonan
(1) Dengan sistem anti-getaran pasif pneumatik terbina dalam, mikroskop elektron dan FIB memerlukan persekitaran yang bebas daripada gangguan getaran frekuensi rendah di bawah 10Hz, biasanya dihasilkan oleh resonans struktur bangunan. VAIS-PB mengasingkan 300 hingga 500 kali lebih banyak getaran daripada sistem pasif dalam julat resonans.
(2) Selepas berjaya menggunakan sistem untuk FEI Quanta 250 FEG pada tahun 2014, VAIS-PB terus menunjukkan prestasi cemerlang dalam beberapa mikroskop elektron dan FIB lain yang dikeluarkan oleh Hitachi, Zeiss, Jeol, Tescan dan banyak lagi.
(3) VAIS-PB secara konsisten menyediakan persekitaran getaran yang stabil dengan rangka sokongan pneumatiknya, yang teguh terhadap input impuls aperiodik.
(4) Menggunakan sokongan spring udara, VAIS-PB boleh digunakan dalam pelbagai berat peralatan, daripada SEM dan FIB yang lebih ringan kepada TEM dan STM yang lebih berat.

Instrumen Sasaran

2. Instrumen Sasaran
-Mikroskop Elektron Pengimbasan (SEM)
-Rasuk Ion Berfokus (FIB)
-Mikroskop Elektron Penghantaran (TEM)
-Mengimbas Mikroskop Terowong (STM)
-Alat Ketepatan Beban Berat