Sistem Pengasingan Getaran Aktif Kompak untuk SEM

Tinjauan Produk: Sistem Anti-Getaran Aktif VAIS-CMT

Masalah Sistem Pasif Pneumatik Konvensional:
Sistem anti-getaran pasif pneumatik yang biasa digunakan mempunyai kelemahan kritikal:

Penguatan getaran dalam julat frekuensi rendah (<10Hz) akibat fenomena resonans

Memerlukan bekalan udara termampat

Ketinggian sistem yang menyukarkan operasi

Sukar mencapai persekitaran getaran kelas IEST VC-E yang diperlukan untuk mikroskop elektron

Penyelesaian VAIS-CMT:
Sistem anti-getaran aktif penuh dengan ciri:
Kawalan 3 paksi-6 darjah kebebasan
Menyelesaikan masalah resonans sistem pasif
Reka bentuk spring gegelung logam - tiada keperluan udara termampat
Ketinggian lebih rendah untuk kemudahan operasi
Harga kompetitif

Kelebihan Utama:

Prestasi Penebatan Unggul:

Menghapuskan sepenuhnya gangguan getaran persekitaran

Sesuai untuk persekitaran getaran kritikal kelas IEST VC-E

Reka Bentuk Praktikal:

Tidak memerlukan bekalan udara termampat

Struktur padat dengan ketinggian berkurang

Pemeliharaan minima

Ekonomi:

Kos pemilikan lebih rendah berbanding sistem pasif

Penyelesaian optimum untuk SEM standard

Aplikasi Utama:

Mikroskop Elektron Pengimbasan (SEM) standard

Stesen Prob

Sistem Pengukuran Permukaan 3D

Mikroskop Optik Ketepatan Tinggi

Sistem Nano-indentasi

Instrumen Pengukuran/Analisis Nano

Perbandingan Prestasi: