Park NX-20

หมวดหมู่ : Product , Products Fabs , Micro-nano Characterization , Atomic Force Microscope (Park systems)

รายละเอียดสินค้า

ข้อมูลจำเพาะ

ภาพรวมผลิตภัณฑ์

เครื่องมือนำด้านนาโนเมโทรโลยีสำหรับการวิเคราะห์ความล้มเหลว

Park NX20 เป็นโซลูชันที่เหมาะสำหรับการวิเคราะห์ความล้มเหลวและเมโทรโลยีเซมิคอนดักเตอร์ นำเสนอการวัดที่แม่นยำ แม่นยำ และทำซ้ำได้ โดยมีโหมด non-contact เพื่อรักษารักษความคมของปลาย การถ่ายภาพข้อบกพร่องที่รวดเร็ว และระบบสแกน XY แบบ decoupled สำหรับการวัด 3 มิติ ตัวตรวจจับ Z สัญญาณรบกวนต่ำช่วยให้มั่นใจได้ถึงการวัดโทโพกราฟีที่แม่นยำโดยไม่มีข้อผิดพลาดระหว่างการสแกนด้วยความเร็วสูง ด้วยความสามารถในการวัดความขรุขระของพื้นผิว การถ่ายภาพตรวจสอบข้อบกพร่อง การสแกนทางไฟฟ้าความละเอียดสูง และการวัดผนังด้านข้าง Park NX20 จึงเป็นเลิศในการจัดการกับความท้าทายที่ซับซ้อนของเซมิคอนดักเตอร์และการวิจัยตัวอย่างขนาดใหญ่

ข้อมูลพื้นฐาน

การถ่ายภาพและการวิเคราะห์การตรวจสอบข้อบกพร่องสำหรับตัวอย่างขนาดใหญ่

Park NX20 มาพร้อมกับคุณสมบัติที่เป็นเอกลักษณ์ที่ทำให้ง่ายต่อการค้นพบเหตุผลเบื้องหลังความล้มเหลวของอุปกรณ์และพัฒนาโซลูชันที่สร้างสรรค์ยิ่งขึ้น ความแม่นยำที่ไม่มีใครเทียบได้ให้ข้อมูลความละเอียดสูงที่ช่วยให้คุณมุ่งเน้นไปที่งานของคุณ ในขณะที่การสแกนโหมด True Non-Contact ช่วยให้ปลายคมและยาวนานขึ้น Park NX20 มีการออกแบบที่ใช้งานง่ายที่สุดและอินเทอร์เฟซอัตโนมัติในอุตสาหกรรม ดังนั้นคุณจะไม่ต้องใช้เวลาและพลังงานมากนักในการใช้เครื่องมือและควบคุมวิศวกรผู้น้อยกับระบบ สิ่งนี้ช่วยให้คุณมุ่งเน้นประสบการณ์ของคุณในการแก้ปัญหาที่ใหญ่ขึ้น และให้การวิเคราะห์ความล้มเหลวที่ชาญฉลาดและทันเวลาแก่ลูกค้าของคุณ

คุณสมบัติหลัก