Optical Measurement (Micro1000/HUD/SV200)
We have found 4 items
Sort by
Wafer Warpage Stress Gauge untuk mengukur warpage, bow dan tekanan wafer dalam industri semikonduktor. Menggunakan teknologi pengukuran optik berketepatan tinggi untuk kawalan proses dan analisis R&D.
Wafer Internal Stress Tester SV200 untuk analisis tekanan dalaman wafer dan filem nipis dalam proses pembuatan semikonduktor. Menggunakan teknologi pengukuran optik bagi pemantauan proses dan analisis R&D.
Sistem pengukuran HUD (Head-Up Display) untuk analisis prestasi optik paparan automotif. Digunakan untuk mengukur kecerahan, kedudukan imej dan kualiti paparan dengan ketepatan tinggi bagi tujuan R&D dan kawalan kualiti.
3D Measuring Microscope Micro1000 digunakan untuk analisis permukaan mikro dan nano dengan ketepatan tinggi. Sistem ini membolehkan pengukuran ketinggian, kedalaman, kekasaran permukaan dan struktur 3D, sesuai untuk industri semikonduktor, elektronik, sains bahan dan penyelidikan makmal.
MakeWebEasy