Penyelesaian Kos-Efektif Terbaik AFM Nano-Observer

Gambaran Keseluruhan Produk
Mikroskop Daya Atom Penyelidikan Anda

Maklumat Asas
Mikroskop AFM Nano-Observer ialah AFM yang fleksibel dan berkuasa. Direka dengan teknologi terbaik, ia menggabungkan prestasi dan kemudahan penggunaan. Pengawal USB menawarkan kunci masuk bersepadu sebenar untuk keupayaan pengukuran yang lebih baik (pengesanan fasa, Mod Piezo-Response).

Laser bunyi rendah dan sistem pra-penjajaran memberikan kesederhanaan dan resolusi tinggi pada kepala AFM yang padat. Perisian intuitifnya memudahkan semua tetapan Mikroskop Daya Atom untuk membolehkan pemerolehan AFM yang cepat dan selamat.

Padat dan teguh, Nano-Observer Atomic Force Microscope memenuhi keperluan untuk pengguna lanjutan atau pemula. Ia mengelakkan penjajaran laser dengan sistem hujung pra-kedudukan. Pandangan atas dan sisi hujung/sampel, digabungkan dengan kawalan bermotor menegak, menjadikan pra-pendekatan mudah.

Aplikasi
-Pencirian bahan
-Sains polimer
-Pencirian elektrik
-Semikonduktor
-Sampel lembut
-Biologi
Kualiti & Mesra Pengguna

Direka untuk mencapai ukuran AFM yang terbaik.

AFM Resolusi Tinggi
Mikroskop AFM Nano-Observer menggunakan peringkat pengimbasan rata lanjutan untuk mengelakkan kecacatan yang terkenal pada pengimbas tiub piezoelektrik seperti haluan, X-Y crosstalk dll. Kawalan maklum balas hingar yang rendah memberikan prestasi yang boleh dipercayai dan tinggi. Peringkat lentur yang dipatenkan dengan 3 peranti piezoelektrik voltan rendah bebas yang dipasang pada platform besar dan digabungkan dengan laser hingar rendah dan elektronik mencapai ukuran resolusi tinggi pada skala atom.

Pengukuran Kualiti

Melalui pilihan pintar pemprosesan analog dan digital, setiap isyarat dipertingkatkan untuk mengelakkan penambahan bunyi dan melakukan maklum balas yang pantas. Pengimbas dikawal oleh penukar D/A 24-bit yang menyediakan imbasan ketepatan tinggi kepada AFM. Kunci terbina dalam untuk ukuran topografi, fasa atau MFM/EFM/KFM dan PFM yang tepat digabungkan dengan elektronik hingar rendah untuk memperoleh imej dan spektroskopi yang sangat diselesaikan

Kedudukan Sampel

AFM intuitif untuk memudahkan pengukuran AFM.

Pandangan atas & sisi untuk kedudukan hujung/sampel
Kamera warna video disediakan dengan mikroskop AFM yang menawarkan tontonan berguna dari atas untuk kedudukan hujung/sampel atau pandangan sisi untuk memudahkan pendekatan tip/sampel.

-Keterlihatan sampel/tip
-Kemudahan penggunaan
-Mengelakkan sampel atau hujung yang merosakkan
-Kontras yang lebih baik dengan pencahayaan sisi

Prestasi
Optik prestasi tinggi (pilihan)
Optik prestasi tinggi (pilihan) juga tersedia untuk menyetempatkan ciri kecil pada sampel anda.

Perisian Intuitif
Hanya parameter utama dipaparkan untuk perisian antara muka yang bersih dan ringkas

Pilihan Mod AFM dalam satu klik
Autoset pengawal ! (tiada kabel atau modul untuk dipasang atau dikeluarkan)
Perisian prakonfigurasi (tetapan auto kebanyakan parameter)
Pelarasan Mikroskop Daya Atom mengikut Langkah : pengguna boleh mengikut langkah yang ditetapkan untuk menetapkan AFM dengan mudah.
Mod AFM

Keunikan Nano-Observer ditentukan oleh fleksibilitinya. Berbilang Mod AFM

Sebagai tambahan kepada prestasi, Nano-Observer mampu melakukan beberapa mod lanjutan yang mengembangkan bidang penyiasatan anda. Di samping pengimejan sentuhan/LFM dan Berayun/ Fasa, beberapa mod tersedia untuk mencirikan kelikatan mekanikal, lekatan sampel anda serta sifat elektrik (CAFM, ResiScopeTM), medan elektrik dan magnet (MFM/ EFM) dan potensi permukaan (KFM standard atau HD-KFMTM) . 8 saluran imej masa nyata tersedia untuk meningkatkan keupayaan analisis.

Mikroskopi Medan Elektrik

Mikroskopi Medan Elektrik (EFM) ialah mod berayun. Hujung logam mengimbas permukaan untuk merekodkan topografi. Kemudian, hujungnya berada di atas sampel dan merekodkan offset isyarat fasa interaksi dengan kecerunan daya elektrik yang terdapat pada permukaan.

Mikroskopi Medan Elektrik

Mikroskopi Medan Elektrik (EFM) ialah mod berayun. Hujung logam mengimbas permukaan untuk merekodkan topografi. Kemudian, hujungnya berada di atas sampel dan merekodkan offset isyarat fasa interaksi dengan kecerunan daya elektrik yang terdapat pada permukaan.

Mikroskopi Medan Magnet

Magnetic Field Microscopy (MFM) ialah mod berayun. Hujung magnet mengimbas permukaan untuk merekodkan topografi. Kemudian, hujungnya berada di atas sampel dan merekodkan offset isyarat fasa interaksi dengan daya magnet di permukaan.

AFM konduktif

AFM Konduktif (C-AFM) ialah mod hubungan AFM. Hujung konduktif menjimatkan variasi semasa permukaan menggunakan penguat. Keluk arus / voltan boleh dijalankan di pelbagai lokasi pada sampel.

Mikroskopi Modulasi Daya

Mod modulasi daya ialah mod hubungan AFM. Ayunan mekanikal digunakan pada hujung semasa imbasan. Peta sifat mekanikal dijalankan dengan mengukur amplitud ayunan dan offset isyarat fasa.

Mikroskopi Daya Piezo

Piezo Force Microscopy (PFM) ialah mod hubungan AFM. Ayunan elektrik digunakan pada hujung konduktif semasa pengimbasan. Pemetaan kawasan orientasi piezoelektrik dijalankan dengan mengukur amplitud ayunan dan offset isyarat fasa.

Mod Lanjutan

Pengukuran elektrik AFM yang muktamad.
HD-KFMTM (Kelvin Force Microscopy)
CSInstruments telah membangunkan pelaksanaan ultra-sensitif KFM yang dinamakan sebagai High Definition-KFM (HD-KFM), yang menggunakan 2 lock-in yang dipadankan dengan dua frekuensi eigenmode pertama bagi cantilever untuk memperoleh kedua-dua topografi dan SP.

ResiScopeTM II (Rintangan selama 10 dekad)
Nano-Observer AFM mempunyai mod ResiScope yang unik berdasarkan elektronik khusus untuk mengukur kerintangan melebihi 10 susunan magnitud, berbanding dengan 3-4 tertib magnitud biasa yang diperoleh dengan tetapan konduktif standard dalam AFM lain.

Resiskop Lembut
Untuk sampel halus seperti polimer atau bahan organik, CSI telah membangunkan mod Soft ResiScope, yang membolehkan anda melakukan pengukuran rintangan dalam mod sentuhan terputus-putus dengan daya malar. Ini membolehkan untuk mengelakkan atau meminimumkan haus/geseran pada hujung/sampel

Persekitaran

Kembangkan keupayaan pengukuran AFM anda.
Mikroskop AFM Pemerhati Nano juga menggabungkan persekitaran yang berbeza seperti suhu, ukuran cecair atau kawalan persekitaran

Kawalan alam sekitar
Tingkatkan pengukuran elektrik AFM anda & lindungi sampel anda (gas, kelembapan)

Cecair EZ
Nano-Observer AFM serasi dengan pengimejan dalam persekitaran cecair

SUHU EZ
-40°C hingga 300°C, serasi dengan mod berayun dan sentuhan